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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學材料檢查設備、液晶層間隙量測設備等）、東機產業（粘度計）、CCS（視檢查光源）、Aitec（視檢查光源）、REVOX萊寶克斯（視檢查光源）、EYE岩崎（UV汞燈）、索尼克（風速計、流量計等）、阪口電熱（加熱器、製冷片）、NEWKON新光（針孔機）、富士端子（各種形狀端子，料多可定製）、NS精密科學（柱塞泵、高壓耐腐蝕防爆泵）
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EMIC愛美克磁粉探傷器的使用說明 鐵磁性材料和工件被磁化後，由於不連續性的存在，工件表麵和近表麵的磁力線發生局部畸變而產生漏磁場，吸附施加在工件表麵的磁粉，形成在合適光下目視可見的磁痕，從而顯示出不連續性的位置、形狀和大小。發布時間：2020-09-02 10:07 點擊次數：283 次
