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代理日本品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學材料檢查設備、液晶層間隙量測設備等)、東機產業(粘度計)、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE岩崎(UV汞燈)、索尼克(風速計、流量計等)、阪口電熱(加熱器、製冷片)、NEWKON新光(針孔機)、富士端子(各種形狀端子,料多可定製)、NS精密科學(柱塞泵、高壓耐腐蝕防爆泵)

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ELSZ-2000S OTSUKA大塚- 高分子相結構分析係統ELSZ-2000SOTSUKA大塚- 高分子相結構分析係統ELSZ-2000SOTSUKA大塚- 高分子相結構分析係統ELSZ-2000S
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Agilent 7100 OTSUKA大塚- 毛細管電泳係統陽離子和陰離子等不同的成分可以用一台裝置進行分析。 用微量樣品可以進行短時間、高分辨率的分析。 OTSUKA大塚- 毛細管電泳係統Agilent 7100OTSUKA大塚- 毛細管電泳係統Agilent 7100OTSUKA大塚- 毛細管電泳係統Agilent 7100
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DRM-3000 OTSUKA大塚-高靈敏度示差折射計 可以根據靜光散射法的重量平均分子量決定的dn / dc測量。 OTSUKA大塚-高靈敏度示差折射計DRM-3000OTSUKA大塚-高靈敏度示差折射計DRM-3000OTSUKA大塚-高靈敏度示差折射計DRM-3000
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SLS-6500HL OTSUKA大塚- 靜態光散射光度計 可以測量使用靜光散射法的優良分子量、慣性半徑、**膽量係數。 OTSUKA大塚- 靜態光散射光度計SLS-6500HLOTSUKA大塚- 靜態光散射光度計SLS-6500HLOTSUKA大塚- 靜態光散射光度計SLS-6500HL
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FPAR-1000AS OTSUKA大塚- 自動桑普勒濃厚係顆粒直徑 FPAR和自動取景器的組合中,關於50檢體的試料,可以進行粒子直徑的自動測量。 樣品量為1ml,可以使用廉價的電筒進行測量。OTSUKA大塚- 自動桑普勒濃厚係顆粒直徑FPAR-1000ASOTSUKA大塚- 自動桑普勒濃厚係顆粒直徑FPAR-1000ASOTSUKA大塚- 自動桑普勒濃厚係顆粒直徑FPAR-100
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FPAR-1000 OTSUKA大塚- 濃厚係顆粒直徑係統 從稀薄係到濃厚係,在廣泛的濃度區域中的粒子直徑測量 *適合分析膠體分散液和拉拉力的分散狀態。OTSUKA大塚- 濃厚係顆粒直徑係統FPAR-1000OTSUKA大塚- 濃厚係顆粒直徑係統FPAR-1000OTSUKA大塚- 濃厚係顆粒直徑係統FPAR-1000
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FDLS-3000 OTSUKA大塚- 光纖光學動態光散射光度計 根據固體激光和高靈敏度檢測器(冷卻型光電子倍增管),可以測量0.5nm~5000 nm的粒子直徑和粒子直徑分布(粒徑·粒徑分布)。OTSUKA大塚- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000OTSUKA大塚- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000OTSUKA大塚- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000
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DLS-6500series OTSUKA大塚- 動態光散射光度計 可測量使用動態光散射法的粒子直徑、粒子直徑分布(粒徑、粒徑分布)。 OTSUKA大塚- 動態光散射光度計DLS-6500seriesOTSUKA大塚- 動態光散射光度計DLS-6500seriesOTSUKA大塚- 動態光散射光度計DLS-6500series
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ELSZ-2000S OTSUKA大塚- 粒徑·分子量測量係統ELSZ-2000SOTSUKA大塚- 粒徑·分子量測量係統ELSZ-2000SOTSUKA大塚- 粒徑·分子量測量係統ELSZ-2000S
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nanoSAQLA OTSUKA大塚- 多檢體納米粒子直徑測量係統nanoSAQLAOTSUKA大塚- 多檢體納米粒子直徑測量係統nanoSAQLAOTSUKA大塚- 多檢體納米粒子直徑測量係統nanoSAQLA
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DLS-8000series OTSUKA大塚- 動態光散射光度計 用動態光散射法的粒子直徑·粒子直徑分布(粒徑·粒徑分布)測量和使用靜光散射法的優良分子量·慣性半徑·**膽量係數的測量。OTSUKA大塚- 動態光散射光度計DLS-8000seriesOTSUKA大塚- 動態光散射光度計DLS-8000series
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ELSZ-2000S OTSUKA大塚- 電位測量係統 OTSUKA大塚- 粒徑·分子量測量係統ELSZ-2000SOTSUKA大塚- 粒徑·分子量測量係統ELSZ-2000S